ログイン
言語:

WEKO3

  • トップ
  • ランキング
To

Field does not validate

To

Field does not validate



インデックスリンク

インデックスツリー

  • RootNode

メールアドレスを入力してください。

WEKO

One fine body…

WEKO

One fine body…

アイテム

  1. 180 工学研究科・工学部
  2. 01 学術論文

Degradation of interface integrity between a high-k dielectric thin film and a gate electrode due to excess oxygen in the film

http://hdl.handle.net/10097/46403
http://hdl.handle.net/10097/46403
de42278c-da2c-416d-881a-0104a0dcb7d0
名前 / ファイル ライセンス アクション
10.1109-IRPS.2009.5173282.pdf 10.1109-IRPS.2009.5173282.pdf (1.1 MB)
Item type 学術雑誌論文 / Journal Article(1)
公開日 2010-04-21
タイトル
タイトル Degradation of interface integrity between a high-k dielectric thin film and a gate electrode due to excess oxygen in the film
言語
言語 eng
キーワード
主題Scheme Other
主題 High-k Gate Dielectrics
キーワード
主題Scheme Other
主題 Band Gap
キーワード
主題Scheme Other
主題 Point Defects
キーワード
主題Scheme Other
主題 Residual Stress
キーワード
主題Scheme Other
主題 Hafnium Oxide
キーワード
主題Scheme Other
主題 Quantum Chemical Molecular Dynamics
キーワード
主題Scheme Other
主題 Synchrotronradiation Photoemission Spectroscopy
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ journal article
著者 Miura, Hideo

× Miura, Hideo

Miura, Hideo

Search repository
Suzuki, Ken

× Suzuki, Ken

Suzuki, Ken

Search repository
Ito, Yuta

× Ito, Yuta

Ito, Yuta

Search repository
Samukawa, Seiji

× Samukawa, Seiji

Samukawa, Seiji

Search repository
Kubota, Tomonori

× Kubota, Tomonori

Kubota, Tomonori

Search repository
Ikoma, Toru

× Ikoma, Toru

Ikoma, Toru

Search repository
Yoshikawa, Hideki

× Yoshikawa, Hideki

Yoshikawa, Hideki

Search repository
Ueda, Shigenori

× Ueda, Shigenori

Ueda, Shigenori

Search repository
Yamashita, Yoshiyuki

× Yamashita, Yoshiyuki

Yamashita, Yoshiyuki

Search repository
Kobayashi, Keisuke

× Kobayashi, Keisuke

Kobayashi, Keisuke

Search repository
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 65482
姓名 三浦, 英生
内容記述
内容記述タイプ Other
内容記述 IEEE CFP09RPS-CDR 47th Annual International Reliability Physics Symposium, Montreal, 2009
書誌情報 IEEE International Reliability Physics Symposium, 2009, 47th

巻 2009, p. 376-381, 発行日 2009
ISBN
識別子タイプ ISBN
関連識別子 978-1-4244-2888-5
DOI
関連タイプ isIdenticalTo
識別子タイプ DOI
関連識別子 10.1109/IRPS.2009.5173282
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 application/pdf
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
出版者
出版者 Institute of Electrical and Electronics Engineers
資源タイプ
内容記述タイプ Other
内容記述 学術論文 (Article)
登録日
日付 2010-04-21
日付タイプ Created
公開日(投稿完了日)
日付 2010-04-21
日付タイプ Created
発行日
日付 2009
日付タイプ Created
フォーマット
内容記述タイプ Other
内容記述 1085536 bytes
公開範囲
値 学外
大学情報DB画面区分
値 K020
大学情報DBリンク番号
値 556045
大学情報DBリポジトリ区分
値 許諾
更新日
日付 2010-04-21
日付タイプ Created
戻る
0
views
See details
Views

Versions

Ver.1 2023-07-27 10:26:24.945462
Show All versions

Share

Mendeley Twitter Facebook Print Addthis

Cite as

エクスポート

OAI-PMH
  • OAI-PMH JPCOAR 2.0
  • OAI-PMH JPCOAR 1.0
  • OAI-PMH DublinCore
  • OAI-PMH DDI
Other Formats
  • JSON
  • BIBTEX

Confirm


Powered by WEKO3


Powered by WEKO3