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Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) and Spectroscopy of Buried Semiconductor Heterostructures and Quantum Dots(STM-BEEM interfaces)
https://doi.org/10.50974/00043814
https://doi.org/10.50974/000438147eb57358-f495-4555-8651-4ce45cd9bd18
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KJ00004200850.pdf (1.2 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 公開日 | 2008-05-02 | |||||||
| タイトル | ||||||||
| タイトル | Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) and Spectroscopy of Buried Semiconductor Heterostructures and Quantum Dots(STM-BEEM interfaces) | |||||||
| 言語 | ||||||||
| 言語 | eng | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | ballistic electron emission microscopy | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | semiconductor heterostructure | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | quantum dots | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | band offset | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | InAs | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | GaAs | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | GaSb | |||||||
| キーワード | ||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||
| 主題 | GaN | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||
| ID登録 | ||||||||
| ID登録 | 10.50974/00043814 | |||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||
| 著者 |
Narayanamurti, Venkatesh
× Narayanamurti, Venkatesh
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| 抄録 | ||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||
| 内容記述 | BEEM is a powerful, new low energy electron microscopy for imaging and spectroscopy of buried quantum objects and nondestructive local characterization of buried semiconductor heterostructures. We will present several applications : 1) Imaging and spectroscopy of 300Å InAs islands confined by GaAs potential barriers 2) Local conduction band offsets of GaSb self assembled quantum dots in GaAs 3) Spatial probing of the order-disorder transition in GaInP/GaAs heterostructures 4) Imaging of misfit dislocations at the InGaAs/GaAs interface buried 600Å below the surface 5) Conduction band structure of GaN | |||||||
| 書誌情報 |
Science reports of the Research Institutes, Tohoku University. Ser. A, Physics, chemistry and metallurgy 巻 44, 号 2, p. 165-172, 発行日 1997-03-31 |
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| ISSN | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||
| 収録物識別子 | 00408808 | |||||||
| 書誌レコードID | ||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||
| 収録物識別子 | AA00836167 | |||||||
| フォーマット | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||||
| 著者版フラグ | ||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||
| 出版者 | ||||||||
| 出版者 | Tohoku University | |||||||
| 資源タイプ | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 紀要類(bulletin) | |||||||
| 登録日 | ||||||||
| 日付 | 2008-05-02 | |||||||
| 日付タイプ | Created | |||||||
| 公開日（投稿完了日） | ||||||||
| 日付 | 2008-05-02 | |||||||
| 日付タイプ | Created | |||||||
| 発行日 | ||||||||
| 日付 | 1997-03-31 | |||||||
| 日付タイプ | Created | |||||||
| フォーマット | ||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||
| 内容記述 | 1217786 bytes | |||||||
| 更新日 | ||||||||
| 日付 | 2010-01-27 | |||||||
| 日付タイプ | Created | |||||||
Share
Cite as
Narayanamurti, Venkatesh, 1997, Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) and Spectroscopy of Buried Semiconductor Heterostructures and Quantum Dots(STM-BEEM interfaces): Tohoku University, 165–172 p.
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